[发明专利]多通道晶体振荡器频率-温度特性的高速采集系统及方法有效
| 申请号： | 201910602161.0 | 申请日： | 2019-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN110376459B | 公开（公告）日： | 2022-03-11 |
| 发明（设计）人： | 丁凡;张凡;黎子龙;刘斯迪;王圣伟;方辉 | 申请（专利权）人： | 武汉海创电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R23/02 |
| 代理公司： | 武汉宇晨专利事务所(普通合伙) 42001 | 代理人： | 王敏锋 |
| 地址： | 430074 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多通道晶体振荡器频率‑温度特性的高速采集系统。它包括工控电脑，并行数据采集单元，频率测量控制单元，温度控制单元，测试工位，和外置稳压源；所述温度控制单元内设置多个测试工位；所述频率测量控制单元通过测试工位连接线与所述测试工位对应连接；所述频率测量控制单元通过网线集成到并行数据采集单元上；所述测试工位与外置稳压源通过软性电源线连接；所述温度控制单元与所述工控电脑通过通信信号连接；所述工控电脑通过网线与并行数据采集单元连接。本发明具有能精确表征晶体振荡器实时工作的频率‑温度特性的优点。本发明还公开了多通道晶体振荡器频率‑温度特性的高速采集系统的采集方法。 | ||
| 搜索关键词： | 通道 晶体振荡器 频率 温度 特性 高速 采集 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.多通道晶体振荡器频率‑温度特性的高速采集系统，包括工控电脑(1)，并行数据采集单元(2)，频率测量控制单元(3)，温度控制单元(4)，测试工位(5)，和外置稳压源(6)；所述温度控制单元(4)内设置多个测试工位(5)；所述频率测量控制单元(3)通过测试工位连接线(9)与所述测试工位(5)对应连接；所述频率测量控制单元(3)通过网线(8)集成到并行数据采集单元(2)上；所述测试工位(5)与外置稳压源(6)通过软性电源线(10)连接；所述温度控制单元(4)与所述工控电脑(1)连接；所述工控电脑(1)通过网线(8)与并行数据采集单元(2)连接。
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