[发明专利]光机测试方法、测试装置及计算机可读存储介质有效
| 申请号： | 201910602477.X | 申请日： | 2019-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN110307961B | 公开（公告）日： | 2021-09-17 |
| 发明（设计）人： | 高文刚 | 申请（专利权）人： | 歌尔光学科技有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/861 | 分类号： | H04L12/861;G06F9/312;G01M11/02 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 261031 山东省潍坊市高新区东*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开一种光机测试方法、测试装置及计算机可读存储介质，光机测试方法应用于投影光机的光机测试装置，投影光机测试装置包括存储模块以及烧录器，存储模块包括第一存储模块以及第二存储模块，光机测试过程中，首先控制烧录器对第一存储模块写入第一测试信息；并根据最新写入的第一测试信息对投影光机进行测试以及控制烧录器对第二存储模块写入新的第二测试信息；再根据最新写入的第二测试信息对投影光机进行测试以及控制烧录器对第一存储模块写入新的第一测试信息；投影光机对全部第一测试信息以及第二测试信息进行测试后测试完成。本发明提供一种光机测试方法、测试装置及计算机可读存储介质，解决了现有技术中投影光机测试效率低的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种光机测试方法，其特征在于，所述光机测试方法应用于投影光机的光机测试装置，所述光机测试装置包括存储模块以及烧录器，所述存储模块包括第一存储模块以及第二存储模块，投影光机的测试信息包括N个第一测试信息和M个第二测试信息，其中N与M均为正整数，所述光机测试方法包括：步骤1，控制所述烧录器对所述第一存储模块写入第一测试信息；步骤2，根据最新写入的第一测试信息对所述投影光机进行测试以及控制所述烧录器对所述第二存储模块写入新的第二测试信息；步骤3，根据最新写入的第二测试信息对所述投影光机进行测试以及控制所述烧录器对所述第一存储模块写入新的第一测试信息；步骤4，重复执行步骤2至步骤3，直至所述投影光机根据全部第一测试信息与全部第二测试信息完成测试。
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