[发明专利]身份识别标签芯片时钟频率的无线测试方法有效

专利信息
申请号: 201910602610.1 申请日: 2019-07-05
公开(公告)号: CN110289891B 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 陈会军;张喆;李德建;胡毅;马岩;唐晓柯;甘杰;谭浪 申请(专利权)人: 北京智芯微电子科技有限公司;国网信息通信产业集团有限公司;国家电网有限公司
主分类号: H04B5/00 分类号: H04B5/00;H04B17/15
代理公司: 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 代理人: 席勇;郑群
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种身份识别标签芯片时钟频率的无线测试方法,包括:读写器通过读写天线向待测标签发送TRcal连续变化的query命令进行测试;读写器通过读写天线收集待测标签返回的多个信号,计算多个信号的频率均值BLF_test,并记录每次测试得到的DR、TRcal及BLF_test三个数组的值,且每个数组的长度等于测试的次数count;列函数关系式一:BLF_test=f(TRcal,DR,CLK1,CLK2,…CLKi…,CLKn),且次数count>n,其中CLK1‑CLKn为时钟内部的时钟频率。借此,本发明的身份识别标签芯片时钟频率的无线测试方法,成本低,测试结果更加准确。
搜索关键词: 身份 识别 标签 芯片 时钟 频率 无线 测试 方法
【主权项】:
1.一种身份识别标签芯片时钟频率的无线测试方法,使用读写器及读写天线对待测标签进行无线测试,其特征在于,所述身份识别标签芯片时钟频率的无线测试方法包括:所述读写器通过所述读写天线向所述待测标签发送TRcal连续变化的query命令进行测试;所述读写器通过所述读写天线收集所述待测标签返回的多个信号,计算所述多个信号的频率均值BLF_test,并记录每次测试得到的DR、TRcal及所述BLF_test三个数组的值,且每个数组的长度等于测试的次数count;列函数关系式一:BLF_test=f(TRcal,DR,CLK1,CLK2,…CLKi…,CLKn),且所述次数count>n,其中CLK1‑CLKn为时钟内部的时钟频率;将函数关系式一改为函数关系式二:[BLF_test‑f(TRcal,DR,CLK1,CLK2,…CLKi…,CLKn)]^2=Delta(i),其中i的数量等于次数count;令Delta_sum=Delta(1)+Delta(2)+Delta(3)…+Delta(count);使用参数遍历法输入多组参数CLK1,CLK2,…CLKi…,CLKn,从而得到多组Delta_sum;以及所述多组Delta_sum中的最小值对应的所述CLK1,CLK2,…CLKi…,CLKn为时钟频率测试值。
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