[发明专利]自动测试切换装置、方法和系统有效

专利信息
申请号: 201910604913.7 申请日: 2019-07-05
公开(公告)号: CN110459260B 公开(公告)日: 2021-02-26
发明(设计)人: 李创锋;邹念锋 申请(专利权)人: 深圳市金泰克半导体有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 深圳智汇远见知识产权代理有限公司 44481 代理人: 田俊峰
地址: 518000 广东省深圳市坪*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本申请涉及硬件测试领域,提出一种自动测试切换装置、方法和系统,自动测试方法以测试终端内自启动测试模块对存储装置进行测试,所述测试终端内包括多个所述自启动测试模块,包括步骤:配置切换装置,在连接于所述测试终端的状态下能自动生成输入至所述测试终端的切换指令;将所述切换装置连接于所述测试终端以向所述测试终端输入切换指令;根据输入的所述切换指令执行自启动测试模块的切换。可根据获取的自动切换装置生成的切换指令,测试终端可以实施自动切换,不需要操作人员再以外接输入装置进行手动控制。
搜索关键词: 自动 测试 切换 装置 方法 系统
【主权项】:
1.一种自动测试方法,以测试终端内自启动测试模块对存储装置进行测试,所述测试终端内包括多个能自启动的所述测试模块,其特征在于,包括步骤:/n配置切换装置,在连接于所述测试终端的状态下能自动生成输入至所述测试终端的切换指令;/n将所述切换装置连接于所述测试终端以向所述测试终端输入切换指令;/n根据输入的所述切换指令执行自启动测试模块的切换。/n
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