[发明专利]一种针对光学自由曲面子孔径偏折测量的精确自定位方法有效
| 申请号： | 201910606141.0 | 申请日： | 2019-07-05 |
| 公开（公告）号： | CN110428471B | 公开（公告）日： | 2021-12-07 |
| 发明（设计）人： | 张祥朝;徐雪炀;牛振岐;徐敏 | 申请（专利权）人： | 复旦大学 |
| 主分类号： | G06T7/80 | 分类号： | G06T7/80;G06F17/16 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 杨宏泰 |
| 地址： | 200433 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种针对光学自由曲面子孔径偏折测量的精确自定位方法，包括以下步骤：1)计算名义面形f上的测量点P的坐标并获取测量点P对应的法向量n；2)根据法向量n逆向追迹屏幕坐标S；3)将回转台从位置A旋转一定角度至位置B，并测量两个位置下的偏折图像，构建最小二乘代价方程；4)求解最小二乘代价方程，即得到实测子孔径表面的位置。与现有技术相比，本发明具有标定简单准确等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 针对 光学 自由 曲面 孔径 测量 精确 定位 方法 | ||
【主权项】：
1.一种针对光学自由曲面子孔径偏折测量的精确自定位方法，其特征在于，包括以下步骤：1)计算名义面形f上的测量点P的坐标并获取测量点P对应的法向量n；2)根据法向量n逆向追迹屏幕坐标S；3)将回转台从位置A旋转一定角度至位置B，并测量两个位置下的偏折图像，构建最小二乘代价方程；4)求解最小二乘代价方程，即得到实测子孔径表面的位置。
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