[发明专利]一种晶片自动测试机在审
| 申请号： | 201910607617.2 | 申请日： | 2019-07-04 |
| 公开（公告）号： | CN110239947A | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 范群意 | 申请（专利权）人： | 范群意 |
| 主分类号： | B65G47/90 | 分类号： | B65G47/90;B65G47/74 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 518049 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种晶片自动测试机，属于晶片测试技术领域。该晶片自动测试机包括料盘装置、测试装置和移载装置，所述料盘装置设置多个；多个所述料盘装置包括待测料盘装置和分类料盘装置；所述待测料盘装置被配置为承载放置有待测晶片的料盘；所述分类料盘装置被配置为承载放置有测试完成的晶片的料盘；所述移载装置能够将所述待测料盘装置的待测晶片移载至所述测试装置完成测试；所述移载装置还能够将测试完成的晶片由所述测试装置移载至所述分类料盘装置。本发明所提供的自动测试机实现了晶片的自动化测试，提高了晶片测试的效率和产能，减少了作业人员生产的劳动强度。 | ||
| 搜索关键词： | 料盘装置 晶片 自动测试机 测试装置 分类料盘 移载装置 晶片测试 测试 料盘 移载 种晶 承载 自动化测试 产能 配置 生产 | ||
【主权项】：
1.一种晶片自动测试机，其特征在于，包括料盘装置(2)、测试装置(4)和移载装置(3)，所述料盘装置(2)设置多个；多个所述料盘装置(2)包括待测料盘装置和分类料盘装置；所述待测料盘装置被配置为承载放置有待测晶片的料盘(100)；所述分类料盘装置被配置为承载放置有测试完成的晶片的料盘(100)；所述移载装置(3)能够将所述待测料盘装置的待测晶片移载至所述测试装置(4)完成测试；所述移载装置(3)还能够将测试完成的晶片由所述测试装置(4)移载至所述分类料盘装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于范群意，未经范群意许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910607617.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种冷藏样本自动交接装置
- 下一篇：一种用于加热炉装卸物料的机器人
