[发明专利]基于光频域反射仪的高精度光波长检测方法及系统在审
| 申请号： | 201910608581.X | 申请日： | 2019-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN112197878A | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 何祖源;樊昕昱;刘庆文;张照鹏 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01J9/02 | 分类号： | G01J9/02 |
| 代理公司： | 上海交达专利事务所 31201 | 代理人： | 王毓理;王锡麟 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种基于光频域反射仪的高精度光波长检测方法及系统，首先将待测光调制为线性啁啾光，采集该线性啁啾光和其经单模光纤产生的背向瑞利散射光干涉后得到的电流信号的离散形式，再经过傅里叶变换得到频域信号，然后经傅里叶逆变换得到电流时域信号的复数离散形式；以第一组信号作为参考信号与后续组信号进行互相关运算，通过监测相关峰位置的移动得到待测光波长的精确变化。本发明基于光频域反射仪方法，通过使用光调制模块产生线性啁啾光进而测量光纤背向瑞利散射光，运用简单的仪器和算法，得到高波长分辨率的效果，实现光波长的精确测量。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 光频域 反射 高精度 波长 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
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