[发明专利]用于表征电气系统中的电能质量事件的系统和方法有效
申请号: | 201910609583.0 | 申请日: | 2019-07-08 |
公开(公告)号: | CN110687367B | 公开(公告)日: | 2022-07-19 |
发明(设计)人: | J.A.比克尔;A.M.达德利;T.K.沃尔 | 申请(专利权)人: | 施耐德电气美国股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邸万奎 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种用于量化包括多个智能电子设备(IED)的电气系统中的电能质量事件的方法,该方法包括处理来自或者从由多个IED中的至少一个第一IED捕获的能量相关信号导出的电测量数据,以识别在电气系统中的至少一个第一IED的第一安装点处的电能质量事件。基于对来自或者从在所确定的第一安装点处的电能质量事件的发生时间附近由多个IED中的至少一个第二IED在第二安装点处捕获的能量相关信号导出的电测量数据的评估,来确定在电气系统中的第二安装点处的电能质量事件的影响。 | ||
搜索关键词: | 用于 表征 电气 系统 中的 电能 质量 事件 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于表征包括多个智能电子设备(IED)的电气系统中的电能质量事件的方法,所述方法包括:/n处理来自或者从由所述多个IED中的至少一个第一IED捕获的能量相关信号导出的电测量数据,以识别在所述电气系统中的所述至少一个第一IED的第一安装点处的电能质量事件,并确定在所述第一安装点处的电能质量事件的发生时间;和/n基于对来自或者从在所确定的所述第一安装点处的电能质量事件的发生时间附近由所述多个IED中的至少一个第二IED捕获的能量相关信号导出的电测量数据的评估,来确定在所述电气系统中的第二安装点处的电能质量事件的影响,其中,所述至少一个第二IED安装在所述第二安装点处,并且所述第二安装点不同于所述第一安装点。/n
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