[发明专利]芯片测试方法、装置及电子设备有效
| 申请号： | 201910610101.3 | 申请日： | 2019-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN110441667B | 公开（公告）日： | 2021-10-08 |
| 发明（设计）人： | 张君宇;刘璟;吕杭炳;张锋;刘明 | 申请（专利权）人： | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人： | 房德权 |
| 地址： | 100029 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明实施例涉及芯片测试技术领域，具体而言，涉及一种芯片测试方法、装置及电子设备。该方法能够以最小时间档位和最小电压档位为基准对芯片进行测试，若芯片在最小时间档位和最小电压档位下能够通过测试，则根据最小时间档位和最小电压档位确定芯片的操作条件，如此，能够在保证芯片通过测试的前提下避免时间档位和电压档位过大对芯片造成的损伤，从而保证了芯片的寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
1.一种芯片测试方法，其特征在于，包括：从芯片的多个预置时间档位中确定出最小时间档位；从所述芯片的多个预置电压档位中确定出最小电压档位；基于所述最小时间档位和所述最小电压档位，对所述芯片进行测试；判断所述芯片是否通过测试；若所述芯片通过测试，根据所述最小时间档位和所述最小电压档位确定所述芯片的操作条件。
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