[发明专利]一种基于近红外光谱的大米品质检测方法有效
| 申请号： | 201910616591.8 | 申请日： | 2019-07-09 |
| 公开（公告）号： | CN110221032B | 公开（公告）日： | 2020-08-07 |
| 发明（设计）人： | 陈召桂 | 申请（专利权）人： | 浙江五芳斋实业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/10 | 分类号： | G01N33/10;G01N21/3563;G01N21/359;G01B11/24 |
| 代理公司： | 嘉兴启帆专利代理事务所(普通合伙) 33253 | 代理人： | 李伊飏 |
| 地址： | 314000 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开一种基于近红外光谱的大米品质检测方法，用于解决如何通过大米的种植区域、降雨量和土壤质量及生长周期获得大米的生长值，通过生长值的大小得到大米的品质；以及如何将大米放置在黑色的底布上，然后通过采集大米图像并对大米图像进行放大；获取得到大米所占像素格并与对比大米的像素格进行对比，然后通过在像素格上涂上三原色RGB，进而得到大米的轮廓差值，从而获得大米的品质的问题；包括以下步骤：S1：获取待检测大米的基本数据；通过生长值、长轴左侧、右侧轮廓差和淀粉含量计算得到待检测大米的品质值生长值越大，待检测大米的品质值越大，代表大米的品质越好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 红外 光谱 大米 品质 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于近红外光谱的大米品质检测方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：获取待检测大米的基本数据；S2：对待检测大米的基本数据进行统计并计算得到大米的生长值；S3：通过图像采集设备采集大米的形状图片，对大米的形状图片绘制封闭的大米轮廓曲线；S4：匹配大米品种并获取该大米品种的对比轮廓曲线，获取得到长轴左侧、右侧轮廓差；S5：通过近红外光谱设备获取待检测大米的淀粉含量；S6：通过生长值、长轴左侧、右侧轮廓差和淀粉含量计算得到待检测大米的品质值。
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