[发明专利]基于地质走向分析的变面元平面插值方法有效

专利信息
申请号: 201910618381.2 申请日: 2019-07-09
公开(公告)号: CN110390702B 公开(公告)日: 2022-11-08
发明(设计)人: 吴明荣;韩宏伟;彭英;曲志鹏;隋国华;陈林;孙兴刚 申请(专利权)人: 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司胜利油田分公司物探研究院
主分类号: G06T11/20 分类号: G06T11/20
代理公司: 济南日新专利代理事务所(普通合伙) 37224 代理人: 崔晓艳
地址: 257000 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明提供一种基于地质走向分析的变面元平面插值方法,包括:步骤1,输入平面散点数据;步骤2,对于步骤1输入的平面散点数据,根据分析精度要求定义分析网格,在分析网格内通过计算不同方位最小方向导数确定为该点地质走向;步骤3,以步骤2中得到的地质走向为长轴方向,设计椭圆形插值面元;步骤4,以步骤3中定义的插值椭圆为分析面元,进行地质方向约束的平面散点数据插值;步骤5,利用步骤4中得到的插值数据,勾绘等值图并进行地质验证。该基于地质走向分析的变面元平面插值方法使预测结果更加符合地质规律,提高了地质研究人员利用预测结果进一步分析解决地质问题的准确性。
搜索关键词: 基于 地质 走向 分析 变面元 平面 方法
【主权项】:
1.基于地质走向分析的变面元平面插值方法,其特征在于,该基于地质走向分析的变面元平面插值方法包括:步骤1,输入平面散点数据;步骤2,对于步骤1输入的平面散点数据,根据分析精度要求定义分析网格,在分析网格内通过计算不同方位最小方向导数确定为该点地质走向;步骤3,以步骤2中得到的地质走向为长轴方向,设计椭圆形插值面元;步骤4,以步骤3中定义的插值椭圆为分析面元,进行地质方向约束的平面散点数据插值;步骤5,利用步骤4中得到的插值数据,勾绘等值图并进行地质验证。
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