[发明专利]深空用反符合探测器的探测效率标定方法及标定系统在审
| 申请号： | 201910619676.1 | 申请日： | 2019-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN110376636A | 公开（公告）日： | 2019-10-25 |
| 发明（设计）人： | 唐述文;余玉洪;方芳;孙志宇;张永杰;杨海波;千奕;赵红赟;孔洁;苏弘 | 申请（专利权）人： | 中国科学院近代物理研究所 |
| 主分类号： | G01T1/203 | 分类号： | G01T1/203;G01T7/00 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 刘美丽 |
| 地址： | 730013 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种深空用反符合探测器的探测效率标定方法及系统，该方法包括以下内容：搭建探测器标定系统；将至少一个被测反符合探测器放入探测器标定系统内，并测量被测反符合探测器的安装位置；利用高能带电粒子入射探测器标定系统，记录探测器标定系统内各探测器的击中位置信息以及被测反符合探测器上的计数；利用探测器标定系统进行带电粒子的径迹重建，获得有效径迹；计算被测反符合探测器的探测效率。利用本发明提供的标定方法，既可以容易得到探测器各个部位的探测效率分布情况，也可以得到整个探测器的探测效率，同时通过划分合适大小的方格，该方法还能够适用于形状不规则探测器的探测效率标定。 | ||
| 搜索关键词： | 符合探测器 探测效率 探测器标定 标定 探测器 高能带电粒子 标定系统 带电粒子 击中位置 不规则 有效径 放入 径迹 入射 方格 测量 重建 记录 | ||
【主权项】：
1.一种深空用反符合探测器的探测效率标定方法，其特征在于包括以下内容：搭建探测器标定系统；将至少一个被测反符合探测器放入探测器标定系统内，并测量所有被测反符合探测器的安装位置；利用高能带电粒子入射探测器标定系统，记录探测器标定系统内各探测器的击中位置信息以及被测反符合探测器上的计数；利用探测器标定系统进行带电粒子的径迹重建，获得有效径迹；计算被测反符合探测器的探测效率。
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