[发明专利]一种纳米材料密度的检测方法有效
| 申请号： | 201910620437.8 | 申请日： | 2019-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN110346239B | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | 陈岚;葛广路;高雅;翟兆毅;郭玉婷 | 申请（专利权）人： | 国家纳米科学中心 |
| 主分类号： | G01N9/00 | 分类号： | G01N9/00 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 巩克栋 |
| 地址： | 100190 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种纳米材料密度的检测方法，所述纳米材料密度的检测方法包括：所述纳米材料密度的检测方法包括：将纳米材料配制成质量分数梯度的纳米材料分散液，而后根据线性回归法，通过测试质量分数梯度的纳米材料分散液的密度，从而得到纳米材料的密度；检测方法具有测试简单、精确度高、成本低以及耗时短等优点，测试一个样品仅需几分钟即可完成；样品处理简单，只需要将纳米材料在溶剂中级次稀释，不需要繁杂的处理过程；需要的样品量少，单次测量需要样品的体积可减少至1.0mL；且可避免测试纳米材料的质量和体积，为准确度和精确度提供了保障。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 材料 密度 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种纳米材料密度的检测方法，其特征在于，所述纳米材料密度的检测方法包括：将纳米材料配制成质量分数梯度的纳米材料分散液，而后根据线性回归法，通过测试质量分数梯度的纳米材料分散液的密度，从而得到纳米材料的密度。
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