[发明专利]一种QFN芯片的自动测试印字收料设备

摘要

本发明公开了一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，包括设备柜，所述设备柜顶端设置有转盘站，且设备柜顶端依次设置有沿转盘站外圆周分布的振动盘入料站、转向站、测试站、镭射站、不良品排出站、封装卷盘式收料机构和tray盘式收料机构，所述设备柜顶端靠近转盘站与镭射站之间位置处设有镭射打标转盘，所述设备柜顶端靠近转向站和振动盘之间位置处设有用于检测芯片方向的影像检测机构，所述设备柜顶端靠近测试站和镭射站之间位置处设有第一打标检测机构。本发明自动化程度高，节省人力，提高工作效率，操作简便，减少操作工序，提高了生产效率，出料方式多样，满足不同生产需要。

主权项

1.一种QFN芯片的自动测试印字收料设备，包括设备柜(12)，其特征在于，所述设备柜(12)顶端设置有转盘站(2)，且设备柜(12)顶端依次设置有沿转盘站(2)外圆周分布的振动盘入料站(1)、转向站(3)、测试站(4)、镭射站(6)、不良品排出站(9)、封装卷盘式收料机构(10)和tray盘式收料机构(11)，所述设备柜(12)顶端靠近转盘站(2)与镭射站(6)之间位置处设有镭射打标转盘(5)，所述设备柜(12)顶端靠近转向站(3)和振动盘之间位置处设有用于检测芯片方向的影像检测机构，所述设备柜(12)顶端靠近测试站(4)和镭射站(6)之间位置处设有第一打标检测机构(7)，所述设备柜(12)顶端靠近镭射站(6)与镭射打标转盘(5)之间位置处设有第二打标检测机构(8)，所述设备柜(12)顶端靠近镭射站(6)与转盘站(2)之间位置处设有镭射打标转盘(5)。