[发明专利]一种包覆颗粒的厚度检测方法、装置和计算设备有效
| 申请号： | 201910621193.5 | 申请日： | 2019-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN110428916B | 公开（公告）日： | 2021-04-23 |
| 发明（设计）人： | 刘坚;姜潮;张航;胡芮嘉;熊岩;李蓉;陈宁 | 申请（专利权）人： | 湖南大学 |
| 主分类号： | G21C17/06 | 分类号： | G21C17/06;G21C17/10;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京思睿峰知识产权代理有限公司 11396 | 代理人： | 谢建云;赵爱军 |
| 地址： | 410082*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种包覆颗粒的厚度检测方法，适于在计算设备中执行，所述包覆颗粒包括内核层和至少一个包覆层，该方法包括步骤：获取包括待测包覆颗粒的全局剖面图像，并从全局剖面图像中提取待测颗粒图像；从待测颗粒图像中确定各层的种子点，并基于各层的种子点进行种子区域生长，得到各层的区域范围；基于各层的区域范围计算各层的轮廓线，并确定内核层的中心点；以及根据内核层的中心点和各层的轮廓线计算各层的厚度。本发明一并公开了相应的包覆颗粒的厚度检测装置和计算设备。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 颗粒 厚度 检测 方法 装置 计算 设备 | ||
【主权项】：
1.一种包覆颗粒的厚度检测方法，适于在计算设备中执行，所述包覆颗粒包括内核层和至少一个包覆层，所述方法包括步骤：获取包括待测包覆颗粒的全局剖面图像，并从所述全局剖面图像中提取待测颗粒图像；从所述待测颗粒图像中确定各层的种子点，并基于各层的种子点进行种子区域生长，得到各层的区域范围；基于各层的区域范围计算各层的轮廓线，并确定内核层的中心点；以及根据所述内核层的中心点和各层的轮廓线计算各层的厚度。
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