[发明专利]基于像素点亮度的OLED面板老化测试发光特性检测方法有效
| 申请号： | 201910621937.3 | 申请日： | 2019-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN110428762B | 公开（公告）日： | 2023-05-16 |
| 发明（设计）人： | 洪志坤;张胜森;欧昌东;郑增强 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 | 代理人： | 赵伟 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于显示面板检测技术领域，公开了一种基于像素点亮度的OLED面板老化测试发光特性检测方法，对老化前的OLED面板的单颗像素点进行拍摄获取像素点亮度值；利用同分辨率的图像采集设备对老化后的显示面板的单颗像素点进行拍摄获取其亮度值，对比老化前、后单像素点的亮度差异得到像素点亮度的衰减特性来表征面板的老化测试发光特性；该检测方法通过高分辨率图像采集设备对OLED面板每个像素点亮度进行测量，对比老化前、后单像素点的亮度差异性，得到单像素点的发光特性受老化测试的影响，从而反映OLED面板的老化特性，具有检测范围大、检测精度高、使用场景广的特点，用于测试显示面板的折叠区域可解决对柔性屏的折叠部进行老化测试发光特性检测难题。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 像素 亮度 oled 面板 老化 测试 发光 特性 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于像素点亮度的OLED面板老化测试发光特性检测方法，其特征在于，对老化前的待测OLED面板的单颗像素点进行拍摄获取像素点亮度值；利用同样分辨率的图像采集设备对老化后的待测OLED面板的单颗像素点进行拍摄获取其亮度值；对比老化前、后单颗像素点的亮度差异得到各像素点亮度的衰减特性，以衰减特性来表征该待测OLED面板的老化测试发光特性。
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