[发明专利]基于GNSS和GEO卫星的电离层投影函数建模方法有效

专利信息
申请号: 201910624583.8 申请日: 2019-07-11
公开(公告)号: CN110275185B 公开(公告)日: 2020-04-03
发明(设计)人: 任晓东;陈军;张小红;李星星;张锦程 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01S19/07 分类号: G01S19/07
代理公司: 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 代理人: 杨采良
地址: 430072 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明属于GNSS精密数据处理技术领域,公开了一种基于GNSS和GEO卫星的电离层投影函数建模方法,采用GEO卫星的VTEC数据对利用IRI/NeQuick模型得到的VTEC值进行校正及全球拟合校正;获取全球分布的电离层并置点电离层STEC与VTEC的比值;得到用于电离层投影函数建模的数据集;统计分析得到的电离层投影值的时空分布与变化规律,并结合电离层物理结构和经验模型,参数化各影响因素并采用最小二乘法对求解各参数。本发明联合GNSS MEO卫星和北斗GEO卫星的电离层投影函数误差分析与建模方法,以提高电离层投影函数模型精度、电离层建模精度及GNSS单频用户的定位精度。
搜索关键词: 基于 gnss geo 卫星 电离层 投影 函数 建模 方法
【主权项】:
1.一种基于GNSS MEO卫星和北斗GEO卫星的电离层投影函数模型的误差数据分析方法,其特征在于,所述基于GNSS MEO卫星和北斗GEO卫星的电离层投影函数模型的误差数据分析方法包括以下步骤:第一步,采用GNSS非差模糊度整数解相位观测值提取高精度电离层斜延迟值、GEO卫星的高精度电离层垂延迟值;第二步,利用GEO卫星得到的高精度VTEC值对利用IRI/NeQuick模型得到的VTEC值进行校正及全球拟合校正,得到校正后的VTEC值;第三步,搜索相同或相近电离层穿刺点处GNSS计算的STEC值和IRI/NeQuick模型得到的校正VTEC值,获取全球分布的电离层并置点电离层STEC与VTEC观测值;第四步,计算全球分布的并置点STEC与VTEC的比值,即电离层投影函数值,得到用于电离层投影函数建模的数据集;第五步,统计分析第四步得到的电离层投影值的时空分布与变化规律,包括:时间、经纬度、高度角、方位角;参数化各影响因素,并采用从粗到细的建模思路,逐步精化电离层投影函数。
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