[发明专利]一种光学三维扫描仪的精度评定方法有效
| 申请号： | 201910625964.8 | 申请日： | 2019-07-11 |
| 公开（公告）号： | CN110230993B | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 都方军;郅慧;刘勇 | 申请（专利权）人： | 四川长虹电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 四川省成都市天策商标专利事务所 51213 | 代理人： | 魏伯吹 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光学三维扫描仪的精度评定方法，包括：A.对定制标准件进行扫描预处理并进行扫描仪校准；B.使用光学三维扫描仪测量定制标准件，模拟扫描拼接过程，获取完整点云数据；C.将获取的点云数据导入第三方处理软件，使用拟合球体命令，得到定制标准件的球体的直径拟合值和球心距拟合值；D.将扫描得到的对应数据的拟合值与定制标准件对应数据的标准值进行比对，定量地判断光学三维扫描仪的单幅测量精度、重复测量精度以及拼接测量精度。本发明的方法，可在相同的自然环境和标定环境下，同时获取光学三维扫描仪的单幅测量误差、重复测量误差以及拼接测量误差，从而多维度预知光学三维扫描仪的测量精度，判断能否满足工件测量需求。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学 三维 扫描仪 精度 评定 方法 | ||
【主权项】：
1.一种光学三维扫描仪的精度评定方法，配合定制标准件实现，其特征在于，包括以下步骤：A.对定制标准件进行扫描预处理并进行扫描仪校准；B.使用光学三维扫描仪测量定制标准件，模拟扫描拼接过程，获取完整点云数据；C.将获取的点云数据导入第三方处理软件，使用拟合球体命令，分别得到定制标准件的球体的直径拟合值和球心距拟合值；D.将扫描得到的对应数据的拟合值与定制标准件对应数据的标准值进行比对，定量地判断光学三维扫描仪的单幅测量精度、重复测量精度以及拼接测量精度。
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