[发明专利]一种测试用例的生成方法、装置、设备及存储介质有效
| 申请号： | 201910629884.X | 申请日： | 2019-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN110348127B | 公开（公告）日： | 2023-05-09 |
| 发明（设计）人： | 翟欣 | 申请（专利权）人： | 北京物芯科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F30/33 | 分类号： | G06F30/33;G06F30/32 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 100013 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试用例的生成方法、装置、设备及存储介质。其中，方法包括：获取需要配置测试用例的电路模块，以及与电路模块匹配的寄存器文件；在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框；响应于对配置输入框的操作，将寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在配置界面中进行提示；根据对匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与电路模块匹配的测试用例。本发明实施例可以防止笔误操作，提高测试用例的生成效率，可以在测试用例的配置界面中展示配置内容，增强可读性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 生成 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种测试用例的生成方法，其特征在于，包括：获取需要配置测试用例的电路模块，以及与所述电路模块匹配的寄存器文件，所述寄存器文件包括：至少一个可配置的寄存器，和/或寄存器中的域；在测试用例的配置界面中显示用于配置寄存器，和/或寄存器中的域的配置输入框，以及与选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框；响应于对所述配置输入框的操作，将所述寄存器文件中与当前操作的配置输入框匹配的可配置寄存器，和/或寄存器中的域作为输入备选在所述配置界面中进行提示；根据对所述选择配置的寄存器，和/或寄存器中的域匹配的测试值输入框所输入的测试值，生成与所述电路模块匹配的测试用例。
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