[发明专利]深度测量装置及距离测量方法在审
申请号: | 201910632082.4 | 申请日: | 2019-07-12 |
公开(公告)号: | CN110333501A | 公开(公告)日: | 2019-10-15 |
发明(设计)人: | 王兆民;武万多 | 申请(专利权)人: | 深圳奥比中光科技有限公司 |
主分类号: | G01S7/481 | 分类号: | G01S7/481;G01S17/08 |
代理公司: | 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 | 代理人: | 孟学英 |
地址: | 518000 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种深度测量装置及距离测量方法,深度测量装置包括:光发射模组,包含光源及图案化光学元件,所述光源用于发射时序上振幅被调制的光束,所述图案化光学元件用于接收所述光束后向目标物体发射结构光光束;TOF图像传感器,包含至少一个像素,所述像素用于接收由所述目标物体反射的结构光光束并形成电信号;控制和处理电路,接收所述电信号并计算出所述反射的结构光光束的强度信息以形成结构光图案,以及,利用所述结构光图案计算所述目标物体的深度图像。将TOF图像传感器与结构光光源相结合,发射端采用了振幅调制,在接收端采用了多抽头像素采集,从实现传统方案难以实现的抗环境光干扰的深度测量方法。 | ||
搜索关键词: | 深度测量装置 结构光 结构光图案 光学元件 距离测量 目标物体 图案化 传感器 像素 反射 光源 目标物体发射 光发射模组 结构光光源 时序 处理电路 抗环境光 强度信息 深度测量 深度图像 像素采集 振幅调制 多抽头 发射端 接收端 后向 调制 发射 | ||
【主权项】:
1.深度测量装置,其特征在于,包括:光发射模组,包含光源及图案化光学元件,所述光源用于发射时序上振幅被调制的光束,所述图案化光学元件用于接收所述光束后向目标物体发射结构光光束;TOF图像传感器,包含至少一个像素,所述像素用于接收由所述目标物体反射的结构光光束并形成电信号;控制和处理电路,接收所述电信号并计算出所述反射的结构光光束的强度信息以形成结构光图案,以及,利用所述结构光图案计算所述目标物体的深度图像。
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