[发明专利]一种塑封SoC器件的快速质量一致性检验方法

摘要

本发明公开了一种塑封SoC器件的快速质量一致性检验方法，主要包括三部分内容：塑封SoC器件快速质量一致性检验的基本要求，如含试验设备、检验批等；塑封SoC器件快速质量一致性检验中的样本要求、不合格品处理要求及电特性要求；塑封SoC器件快速质量一致性检验项目的分组及试验条件的制定。本发明为塑封SoC器件的快速质量一致性检验提供了新的方法，为塑封SoC器件的可靠使用与有效管理提供了新的途径。

主权项

1.一种塑封SoC器件的快速质量一致性检验方法，其特征在于，所述方法包括：首先，快速质量一致性检验包括A、B、C和D组检验；A、B组检验逐批进行，C、D组检验为周期性检验；一个检验批应由在相同条件下生产并同时提交检验的所有产品组成，该批中产品应在同一生产周期内采用相同材料和工艺生产；然后，快速质量一致性检验所需样本应为经过筛选试验且合格的产品；样本数量参照GJB7400或GJB597，样本覆盖所给出的试验分组及主要项目；不满足分组检验要求的批可重新提交一次，重新提交的批应明确标注；可加严检验判据，重新提交一次，进行该分组试验；最后，A组电特性要求包括：输出高电平电压、输出低电平电压、输入漏电流、三态漏电流、静态电源电流、输入电容、输出电容、最高工作频率及相关时钟域参数；A组检验包括的分组试验：1分组为25℃下静态测试、2分组为最高工作温度下静态测试、3分组为最低工作温度下静态测试、7分组为25℃下功能测试、8a分组为最高工作温度下功能测试、8b分组为最低工作温度下功能测试、9分组为25℃下开关参数测试；B组检验包括的分组试验：键合强度与芯片剪切强度或拉力、X射线与超声检查、ESD及DPA；ESD试验在初始鉴定或产品工艺、设计更改时进行；C组检验包括的分组试验：外观检查、老炼检验；D组检验包括的分组试验：温度循环、高压蒸煮、耐焊接热；塑封SoC器件所有试验样本通过所有项目且合格，表明此塑封SoC器件通过了快速质量一致性检验。