[发明专利]一种多芯片的封装结构及其封装方法在审

专利信息
申请号: 201910633980.1 申请日: 2019-07-15
公开(公告)号: CN110349945A 公开(公告)日: 2019-10-18
发明(设计)人: 徐健;包旭升;朴晟源;金政汉;闵炯一;郑宾宾;刘志敏 申请(专利权)人: 星科金朋半导体(江阴)有限公司
主分类号: H01L25/18 分类号: H01L25/18;H01L23/31;H01L21/56
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 赵华
地址: 214434 江苏省无锡*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种多芯片的封装结构及其封装方法,属于半导体芯片封装技术领域。其扇出型芯片封装单元设置的芯片(1)为两个或两个以上,芯片(1)彼此间仅留毛细间隙(2),所述芯片(1)彼此间于再布线层(6)的上表面设置毛细封堵部件(3),毛细封堵部件(3)完全填充毛细间隙(2)的下部,所述塑封料(4)与毛细封堵部件(3)密接。本发明提供了解决芯片开裂、产品翘曲等问题的多芯片的封装结构及其封装方法,提高了产品的良率。
搜索关键词: 毛细 封堵部件 封装结构 多芯片 封装 芯片 半导体芯片封装 芯片封装单元 产品翘曲 芯片开裂 再布线层 扇出型 上表面 塑封料 良率 密接 填充
【主权项】:
1.一种多芯片的封装结构,其包括扇出型芯片封装单元、基板(12)及其焊球(13),所述扇出型芯片封装单元设置在基板(12)的上表面,所述焊球(13)设置在基板(12)的下表面,其特征在于,所述扇出型芯片封装单元设置的芯片(1)为两个或两个以上,平铺分布,且彼此紧靠,芯片(1)彼此间仅留毛细间隙(2),所述毛细间隙(2)的宽度范围在50‑300微米,芯片(1)的正面通过金属凸块Ⅰ(9)倒装于再布线层(6)的上表面,所述芯片(1)彼此间于再布线层(6)的上表面设置毛细封堵部件(3),毛细封堵部件(3)完全填充毛细间隙(2)的下部,其横向长度不小于毛细间隙(2)的横向长度,其高度大于芯片(1)的下表面至再布线层(6)的上表面之间的间距,芯片(1)与再布线层(6)之间设置底填料Ⅰ(5);还包括塑封料(4),所述塑封料(4)覆盖再布线层(6)上的所有芯片(1),并填充毛细间隙(2),所述塑封料(4)与毛细封堵部件(3)密接,扇出型芯片封装单元的下表面即再布线层(6)的下表面设有金属凸块Ⅱ(7), 扇出型芯片封装单元通过金属凸块Ⅱ(7)与基板(12)的上表面固连;扇出型芯片封装单元与基板(12)之间设置底填料Ⅱ(8)。
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