[发明专利]基于多目标聚类遗传算法的多存储器内建自测试的方法

摘要

本发明涉及一种基于多目标聚类遗传算法的多存储器内建自测试的方法，包括如下步骤：存储器聚类，获得一组兼容的存储器组；存储器数量与存储器共享测试的标准电路wrapper采用整数向量编码方案；初始种群生成；目标函数值计算；交叉与变异；输出解码方案。进行存储器测试。

主权项

1.一种基于多目标聚类遗传算法的多存储器内建自测试的方法，包括如下步骤：/n步骤一：存储器聚类：设定同一物理层相同频率存储器i、j的位置为(x_i,y_i)，(x_j,y_j)，则存储器i、j之间的欧式距离为/n /n设L为边界约束条件，若d_ij＜L，说明存储器i、j可以共享相同BIST控制器，获得一组兼容的存储器组，用M＝[m₁,m₂,…,m_l]表示。/n步骤二：存储器数量与存储器共享测试的标准电路wrapper采用整数向量编码方案：染色体由兼容存储器组表示，存储器配置代表染色体的基因，具有wrapper组别与共享模式信息，则解码方案表示为：M＝[m₁₁,m₁₁,m₂₂,…,m_i3]；其中，元素下标第一位代表wrapper组别，第二位代表wrapper内存储器共享方式，其中1代表串行模式，2代表并行模式，3代表专用模式；/n步骤三：初始种群生成，设初始种群数量为Q，则实现过程为：/n⑴在存储器组M中随机生成wrapper构成序列；/n⑵对满足片上系统的面积开销、测试功耗与测试时间约束条件的wrapper构成序列，保留测试时间最短的序列M_t、面积开销最小的序列M_a和测试功耗最低的序列M_p，得到三个可行解/n⑶将这三个可行解作为首要的初始解，在这三个的基础上进行成对交叉生成Q/4个初始解，剩余个体则由满足约束条件的随机生成的个体填充；/n步骤四：目标函数值计算，影响BIST系统性能的因素有测试功耗、面积开销与测试时间，则目标函数为：/n其中，A为面积开销，A_limit为允许最大面积开销，A_min为解中最小的面积开销；P为测试功耗，P_limit为允许最大测试功耗，P_min为解中最小的测试功耗；T为测试时间，T_limit为允许最大测试时间，T_min为解中最小测试时间；α、β与δ为面积开销、测试峰值功耗与测试时间的权重归一化参数，t为惩罚系数；/n步骤五：交叉与变异：对父代种群进行交叉变异操作，得到子代种群M_s；进行交叉变异操作时，分两步进行:①任意选择种群内部不同的两个个体；②由于使用整数向量进行编码，对于选出的两个个体，任意选择一个交叉点，需要交叉的染色体段小于染色体整体长度；实行变异操作时，任意选择经过交叉操作种群中的单个个体，选择个体上任意两个位置，交换其编码达到变异的目的；/n步骤六：输出解码方案：判断是否达到规定的遗传代数，是则输出最终解码方案；否则回到上一步骤；/n步骤七：进行存储器测试。/n