[发明专利]基于FFL的磁粒子成像三维立体重建方法、系统、装置有效
| 申请号： | 201910637247.7 | 申请日： | 2019-07-15 |
| 公开（公告）号： | CN110420026B | 公开（公告）日： | 2020-05-19 |
| 发明（设计）人： | 田捷;张鹏;惠辉;王坤;杨鑫 | 申请（专利权）人： | 中国科学院自动化研究所 |
| 主分类号： | A61B5/05 | 分类号： | A61B5/05 |
| 代理公司： | 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙) 11576 | 代理人： | 郭文浩;尹文会 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明属于磁粒子成像领域，具体涉及一种基于FFL的磁粒子成像三维立体重建方法、系统、装置，旨在为了解决基于FFL的磁粒子分布三维图像准确度较低的问题。本发明方法包括：获取基于FFL对被扫描目标进行三维扫描过程中感应线圈的电流信号数据；基于所述电流信号数据，通过预设的核函数进行反卷积，得到二维图像数据集合；所述核函数为增加L2正则化约束的阶跃函数；基于所述二维图像数据集合，采用维纳滤波反卷积算法获取初始三维图像；基于初始三维图像，通过郎之万函数进行反卷积，并通过雷登变换获取最终三维图像。本发明提高了所重建的三维图像中磁粒子定位准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 ffl 粒子 成像 三维立体 重建 方法 系统 装置 | ||
【主权项】：
1.一种基于FFL的磁粒子成像三维立体重建方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤S100，获取基于FFL对被扫描目标进行三维扫描过程中感应线圈的电流信号数据；步骤S200，基于所述电流信号数据，通过预设的核函数进行反卷积，得到二维图像数据集合；所述核函数为增加L2正则化约束的阶跃函数；步骤S300，基于所述二维图像数据集合，采用维纳滤波反卷积算法获取初始三维图像；步骤S400，基于初始三维图像，通过郎之万函数进行反卷积，并通过雷登变换获取最终三维图像。
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