[发明专利]基于无磁场线扫描的磁粒子成像系统有效

专利信息
申请号: 201910637709.5 申请日: 2019-07-15
公开(公告)号: CN110367983B 公开(公告)日: 2020-09-22
发明(设计)人: 田捷;惠辉;张鹏;王坤;杨鑫 申请(专利权)人: 中国科学院自动化研究所
主分类号: A61B5/05 分类号: A61B5/05
代理公司: 北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙) 11576 代理人: 郭文浩;尹文会
地址: 100190 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于磁粒子成像领域,具体涉及一种基于无磁场线扫描的磁粒子成像系统,旨在为了解决磁粒子成像系统灵敏度、分辨率不能满足需求的问题。本系统包括磁体组、感应线圈、成像床、控制与成像装置,磁体组包括两对轴线正交设置环形磁体对、一个圆筒形磁体;环形磁体对中两个环形磁体共轴;圆筒形磁体设置于两对环形磁体的包围空间,其轴线过两对环形磁体对的轴线正交点,且垂直于两对环形磁体对的轴线构成的平面;所述控制与成像装置,用于按照设定的控制指令控制磁体组中各磁体的磁场变化,实现所产生的无磁场线转动和/或平移,并依据感应磁场在感应线圈中产生的电流信号进行磁性粒子成像。本发明提高了磁粒子定位的精准度,提高了的分辨率。
搜索关键词: 基于 磁场 扫描 粒子 成像 系统
【主权项】:
1.一种基于无磁场线扫描的磁粒子成像系统,包括磁体组、感应线圈、成像床、控制与成像装置,其特征在于,所述磁体组包括两对环形磁体对、一个圆筒形磁体;所述环形磁体对中两个环形磁体共轴;两对所述环形磁体对的轴线正交;所述圆筒形磁体设置于两对所述环形磁体的包围空间,所述圆筒形磁体的轴线过两对所述环形磁体对的轴线正交点,且垂直于两对所述环形磁体对的轴线构成的平面;所述控制与成像装置,用于按照设定的控制指令控制两对所述环形磁体对、所述圆筒形磁体的磁场变化,实现所产生的无磁场线转动和/或平移,以对所述成像床上设置的被扫描目标的三维扫描;还用于依据感应磁场在所述感应线圈中产生的电流信号进行磁性粒子成像。
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