[发明专利]半导体存储器设备和半导体存储器设备的操作方法有效

专利信息
申请号: 201910640221.8 申请日: 2019-07-16
公开(公告)号: CN110729002B 公开(公告)日: 2023-07-25
发明(设计)人: 崔训对;金和平 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11C7/10 分类号: G11C7/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 李琳
地址: 韩国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明构思涉及一种半导体存储器设备。该半导体存储器设备可以包括:第一缓冲器,被配置为接收第一信号;第二缓冲器,被配置为接收第二信号;检测器,被配置为将由第一缓冲器接收的第一信号的第一相位与由第二缓冲器接收的第二信号的第二相位进行比较并生成检测信号;以及校正器,响应于检测信号被激活或去激活。当校正器响应于检测信号被激活时,校正器可以被配置为校正由第一缓冲器接收的第一信号和由第二缓冲器接收的第二信号。
搜索关键词: 半导体 存储器 设备 操作方法
【主权项】:
1.一种半导体存储器设备,包括:/n存储器单元阵列,包括存储器单元;/n地址缓冲器,被配置为从外部设备接收关于存储器单元的地址信息;/n命令缓冲器,被配置为从外部设备接收用于访问存储器单元的命令;/n第一选通缓冲器,被配置为从外部设备接收第一信号和第二信号;以及/n第一数据缓冲器,被配置为与第一信号和第二信号同步地从外部设备接收数据,/n其中,所述第一选通缓冲器包括:/n第一缓冲器,被配置为接收第一信号,/n第二缓冲器,被配置为接收第二信号,/n检测器,被配置为将由第一缓冲器接收的第一信号的第一相位与由第二缓冲器接收的第二信号的第二相位进行比较,并生成检测信号,以及/n校正器,被配置为响应于检测信号而被激活或去激活,并且当响应于检测信号而被激活时,校正由第一缓冲器接收的第一信号和由第二缓冲器接收的第二信号。/n
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