[发明专利]线域频域光学相干层析系统及其纵向坐标标定方法在审
申请号: | 201910640774.3 | 申请日: | 2019-07-16 |
公开(公告)号: | CN110243760A | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | 刘峰;钟舜聪;陈曼;方波;张秋坤 | 申请(专利权)人: | 福州大学 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01;G01N21/25 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 丘鸿超;蔡学俊 |
地址: | 350108 福建省福州市闽*** | 国省代码: | 福建;35 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种线域频域光学相干层析系统,包括:光源模块,光源发出的光经凸透镜准直为平行光束;迈克尔逊干涉仪模块,用于将平行光束聚焦并分光为两束光线,一束汇聚于参考镜,另一束汇聚于待测样品表面,两束光经反射后重合发生干涉;线光谱仪模块,干涉光束入射反射式光栅按波长在空间分光后汇聚成干涉谱线,由面阵相机采集图像信号;以及具有图像处理模块的计算机,用于接收、存储、处理图像信号;系统还配设有纵向坐标标定装置,包括:可调狭缝结构,用于调整通过狭缝照射到待测样品上的检测光;以及狭缝位移平台,用于驱动可调狭缝结构位移。该系统可对纵向坐标进行准确标定,确定线域频域光学相干层析检测的纵向坐标。 | ||
搜索关键词: | 纵向坐标 频域光学相干层析系统 待测样品 可调狭缝 汇聚 标定 分光 狭缝 凸透镜 迈克尔逊干涉仪 采集图像信号 处理图像信号 频域光学相干 平行光束聚焦 图像处理模块 反射式光栅 光谱仪模块 标定装置 层析检测 干涉光束 光源模块 结构位移 面阵相机 平行光束 位移平台 参考镜 干涉谱 检测光 波长 重合 入射 准直 反射 光源 照射 存储 驱动 干涉 计算机 | ||
【主权项】:
1.一种线域频域光学相干层析系统,其特征在于,包括:光源模块,包括光源(或SLD光源)(1)和凸透镜(2),光源(1)发出的光经凸透镜(2)准直为平行光束,用于频域光相干层析检测;迈克尔逊干涉仪模块,包括第一柱透镜(3)、分光镜(4)和参考镜(5),第一柱透镜(3)将平行光束聚焦为焦线,分光镜(4)将光束分束为强度相等的两束光线,一束作为参考光汇聚于参考镜(5),另一束作为检测光汇聚于待测样品(8)表面,两束光经反射后重合发生干涉;线光谱仪模块,包括第二柱透镜(10)、反射镜(11)、反射式光栅(12)、第三柱透镜(13)和面阵相机(14),干涉光束经第二柱透镜(10)汇聚和反射镜(11)反射后入射到反射式光栅(12)上,反射式光栅(12)将入射光按波长在空间分光后由柱透镜汇聚成干涉谱线,由面阵相机采集获得二维干涉条纹图像信号;以及具有图像处理模块的计算机,用于控制系统各模块工作,以及接收、存储、处理面阵相机传输来的二维干涉光谱图像信号;所述线域频域光学相干层析系统还配设有纵向坐标标定装置,所述纵向坐标标定装置包括:可调狭缝结构(9),设于分光镜(4)与待测样品(8)之间的检测光路上,用于调整通过狭缝照射到待测样品上的检测光,狭缝宽度可调;以及狭缝位移平台,用于驱动可调狭缝结构进行横向和纵向位移。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福州大学,未经福州大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910640774.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。