[发明专利]一种存储器件、存储器及制备存储器件的方法有效

专利信息
申请号: 201910643820.5 申请日: 2019-07-17
公开(公告)号: CN110364573B 公开(公告)日: 2022-08-26
发明(设计)人: 廖佳佳;罗远东;曾斌建;曾诗妍;彭强祥;廖敏;周益春 申请(专利权)人: 湘潭大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/792;H01L21/336
代理公司: 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 代理人: 陈超
地址: 411100 湖*** 国省代码: 湖南;43
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种存储器件、存储器及制备存储器件的方法,其中,存储器件包括衬底、隔离层、缓冲层、铁电层、第一浮栅金属层、电荷捕获层、隧穿层和栅金属层;衬底两边形成有隔离层,用于隔离相邻的存储器件;两边的隔离层之间的衬底上设置有有源区;有源区一边形成源区,另一边形成漏区;源区和漏区通过金属连线与上层金属连线连接,经过多层金属互联形成器件的外围电路控制;缓冲层覆盖隔离层和有源区上不与金属连线连接的部分;铁电层、电荷捕获层、第一浮栅金属层、隧穿层和栅金属层依次设置在源区和漏区之间的缓冲层上。由铁电层和电荷捕获层共同实现存储功能,铁电层极化时产生的电场作用于电荷捕获层存储信息,增加器件的抗疲劳性能,提高存储密度。
搜索关键词: 一种 存储 器件 存储器 制备 方法
【主权项】:
1.一种存储器件,其特征在于,包括衬底(1)、隔离层(2)、缓冲层(5)、铁电层(7)、第一浮栅金属层(8)、电荷捕获层(9)、隧穿层(10)和栅金属层(11);所述衬底(1)两边形成有所述隔离层(2),用于隔离相邻的所述存储器件;两边的所述隔离层(2)之间的所述衬底(1)上设置有有源区;所述有源区一边形成源区(3),另一边形成漏区(4);所述源区(3)和所述漏区(4)通过金属连线与上层金属连线连接,经过多层金属互联形成存储器件的外围电路控制;所述缓冲层(5)覆盖所述隔离层(2)和所述有源区上不与所述金属连线连接的部分;所述铁电层(7)、所述第一浮栅金属层(8)、所述电荷捕获层(9)、所述隧穿层(10)和所述栅金属层(11)依次设置在所述源区(3)和所述漏区(4)之间的所述缓冲层(5)上。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湘潭大学,未经湘潭大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910643820.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top