[发明专利]颗粒带电实验装置及测试方法在审
申请号: | 201910646435.6 | 申请日: | 2019-07-17 |
公开(公告)号: | CN110231274A | 公开(公告)日: | 2019-09-13 |
发明(设计)人: | 周帅;胡小锋;魏明 | 申请(专利权)人: | 中国人民解放军陆军工程大学 |
主分类号: | G01N15/10 | 分类号: | G01N15/10;G01N15/00;G01R29/08 |
代理公司: | 石家庄轻拓知识产权代理事务所(普通合伙) 13128 | 代理人: | 王占华 |
地址: | 050003 *** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | 本发明公开了一种颗粒带电实验装置及测试方法,所述实验装置包括位于上侧的介质颗粒滑落漏斗,滑落板的上端位于所述漏斗内,所述滑落板的下端位于所述漏斗外,所述滑落板的下侧边缘位于法拉第筒的上端开口之上,经所述漏斗排出的介质颗粒经过与所述滑落板上的介质颗粒摩擦后带电,然后从所述滑落板的下侧边缘排入到所述法拉第筒内,在所述滑落板的下侧边缘与所述法拉第筒的上端之间形成带电介质颗粒幕,所述带电介质颗粒幕的左侧设置有发射天线,所述带电介质颗粒幕的右侧设置有接收天线,信号源与所述发射天线的信号输入端连接。通过所述装置能够完成介质颗粒带电对电磁波传播影响的实验,且所述装置结构简单,容易实现。 | ||
搜索关键词: | 滑落板 介质颗粒 带电 漏斗 带电介质 法拉第筒 实验装置 下侧边缘 发射天线 上端 电磁波传播 信号输入端 测试 接收天线 上端开口 装置结构 信号源 滑落 排出 下端 摩擦 | ||
【主权项】:
1.一种颗粒带电实验装置,其特征在于:包括位于上侧的介质颗粒滑落漏斗(1),滑落板(2)的上端位于所述漏斗内,并固定在所述漏斗的内壁上,所述滑落板(2)上粘贴有介质颗粒,所述滑落板(2)的下端位于所述漏斗外,且位于所述漏斗外的滑落板(2)倾斜设置,所述滑落板(2)的下侧边缘位于法拉第筒(3)的上端开口之上,经所述漏斗排出的介质颗粒(4)经过与所述滑落板(2)上的介质颗粒摩擦后带电,然后从所述滑落板(2)的下侧边缘排入到所述法拉第筒(3)内,在所述滑落板(2)的下侧边缘与所述法拉第筒(3)的上端之间形成带电介质颗粒幕,所述法拉第筒(3)通过导线连接有静电计(5);所述带电介质颗粒幕的左侧设置有发射天线(6),所述带电介质颗粒幕的右侧设置有接收天线(7),信号源(8)与所述发射天线(6)的信号输入端连接,信号源(8)用于为所述发射天线(6)提供输入信号;接收天线(7)的信号输出端与频谱仪(9)的信号输入端连接,频谱仪用于测量接收到的电磁信号的功率。
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