[发明专利]测试X光探测器时间响应的装置及测试方法有效

专利信息
申请号: 201910648733.9 申请日: 2019-07-18
公开(公告)号: CN110361774B 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 刘宇浩;付雷 申请(专利权)人: 江苏康众数字医疗科技股份有限公司
主分类号: G01T7/00 分类号: G01T7/00
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 李婧宇
地址: 215028 江苏省苏州市工业园区*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种测试X光探测器时间响应的装置及测试方法,包括X光光源、X光探测器、设置在X光光源与X光探测器之间且具有可转动的标记的转动系统、实时地测试X光的开关和强度的X光感知系统、用于监测标记的转动位置的高速摄像系统、用于数据采集和分析处理的数据采集模块,数据采集模块与X光光源、X光探测器、转动系统、X光感知系统、高速摄像系统均电性连接。本装置及测试方法,实现了从X光曝光至显示总延时的测试,且能够独立于X光探测器自身的系统,不依赖计算机的运行速度,能够真实的测试延时。此外,还能用于测试帧抖动等相关延时的参数。通过拓展,本发明还能用于测试X光光源的延时信息。
搜索关键词: 测试 探测器 时间 响应 装置 方法
【主权项】:
1.一种测试X光探测器时间响应的装置,其特征在于:包括X光光源(6)、X光探测器(1)、设置在所述X光光源(6)与X光探测器(1)之间且具有可转动的标记(21)的转动系统(2)、实时地测试X光的开关和强度的X光感知系统(3)、用于监测所述标记(21)的转动位置的高速摄像系统(5)、用于数据采集和分析处理的数据采集模块(4),所述的数据采集模块(4)与所述X光光源(6)、所述X光探测器(1)、所述转动系统(2)、所述X光感知系统(3)、所述高速摄像系统(5)均电性连接,所述标记(21)的转动轴线垂直于所述X光探测器(1)的探测表面,所述的标记(21)在X光和可见光下可见。
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