[发明专利]单事件计数率校正方法、装置、计算机设备和存储介质有效
| 申请号： | 201910651186.X | 申请日： | 2019-07-18 |
| 公开（公告）号： | CN110327065B | 公开（公告）日： | 2023-01-03 |
| 发明（设计）人： | 唐嵩松;王建勋;刘益林 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;A61B6/03 |
| 代理公司： | 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 33250 | 代理人： | 雷志刚 |
| 地址： | 201807 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种单事件计数率校正方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取PET扫描人体后得到的单事件计数率以及单事件能量分布数据；根据单事件能量分布数据对单事件计数率进行能量甄别校正，得到校正后的单事件计数率；根据校正后的单事件计数率、系统死时间以及系统死时间模型，得到死时间校正因子；根据校正后的单事件计数率以及死时间校正因子，得到理想单事件计数率。通过单事件能量分布数据对单事件计数率进行校正，再利用校正后的单事件计数率生成死时间校正因子，能够大大提高死时间校正的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 事件 计数 校正 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种单事件计数率校正方法，其特征在于，所述方法包括：获取PET扫描人体后得到的单事件计数率以及单事件能量分布数据；根据单事件能量分布数据对单事件计数率进行能量甄别校正，得到校正后的单事件计数率；根据校正后的单事件计数率、系统死时间以及系统死时间模型，得到死时间校正因子；根据校正后的单事件计数率以及死时间校正因子，得到理想单事件计数率。
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