[发明专利]一种碳化硅单晶衬底的加工方法在审
申请号: | 201910651649.2 | 申请日: | 2019-07-18 |
公开(公告)号: | CN110539240A | 公开(公告)日: | 2019-12-06 |
发明(设计)人: | 徐良;阳明益;占俊杰;蓝文安;刘建哲;余雅俊 | 申请(专利权)人: | 浙江博蓝特半导体科技股份有限公司 |
主分类号: | B24B29/02 | 分类号: | B24B29/02;B24B37/04;B24B37/08;B24B57/00;B28D5/04;H01L21/02 |
代理公司: | 11619 北京辰权知识产权代理有限公司 | 代理人: | 董李欣<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
地址: | 321000 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明涉及一种碳化硅单晶衬底的加工方法。该方法包括下列步骤:先用钻石线对碳化硅单晶制品进行切割,然后采用钻石盘进行研磨,之后用钻石抛光液进行粗抛光,最后经过精抛光得到碳化硅单晶衬底。本发明可在加工效率与平面均匀度之间取得双赢,辅以最后一道化学机械精抛光来达成半导体级表面质量要求,此方法可大大降低加工时间与加工成本,同时也有效的提高碳化硅单晶衬底片的加工良率。 | ||
搜索关键词: | 碳化硅单晶 钻石 精抛光 加工 衬底 表面质量要求 半导体级 化学机械 加工效率 研磨 衬底片 粗抛光 均匀度 抛光液 良率 切割 | ||
【主权项】:
1.一种碳化硅单晶衬底的加工方法,其特征在于,包括下列步骤:/n先用钻石线对碳化硅单晶制品进行切割,然后采用钻石盘进行研磨,之后用钻石抛光液进行粗抛光,最后经过精抛光得到碳化硅单晶衬底。/n
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