[发明专利]一种用于MCU的微功耗低电压检测电路有效
申请号: | 201910651953.7 | 申请日: | 2019-07-18 |
公开(公告)号: | CN110501548B | 公开(公告)日: | 2020-10-30 |
发明(设计)人: | 丁晓兵;常成星;冯旭;胡锦通;朱少华 | 申请(专利权)人: | 上海芯旺微电子技术有限公司 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00;G06F1/24;G06F1/28;G06F1/3234;G06F11/30 |
代理公司: | 上海唯智赢专利代理事务所(普通合伙) 31293 | 代理人: | 姜晓艳;刘朵朵 |
地址: | 200120 上海市浦东新区龙东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及检测电路的技术领域,公开了一种用于MCU的微功耗低电压检测电路,用于MCU上电和掉电过程中的低电压检测,包括镜像电流模块,其输入端与MCU供电电压相连,输出端与比较模块的输入端、镇流电阻的一端相连,比较模块的输入端还与镇流电阻的一端相连,输出端与负载的一端、整形模块相连,镇流电阻、负载的另一端接地,镜像电流模块用于产生随MCU供电电压的变化而变化的一对镜像电流,其分别流过比较模块和镇流电阻;比较模块用于根据镇流电阻上的电压和镜像电流模块上的电压变化,进行翻转输出;整形模块用于对比较模块的翻转输出进行整形,输出对应的高电平和低电平。本发明的电路结构紧凑,控制方便,便于普及和推广。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 mcu 功耗 电压 检测 电路 | ||
【主权项】:
1.一种用于MCU的微功耗低电压检测电路,其特征在于:用于MCU上电和掉电过程中的低电压检测,包括镜像电流模块,所述镜像电流模块的输入端与MCU供电电压相连,输出端与比较模块的输入端、镇流电阻的一端相连,所述比较模块的输入端还与镇流电阻的一端相连,输出端与负载的一端、整形模块相连,所述镇流电阻、负载的另一端接地,/n所述镜像电流模块用于产生随MCU供电电压的变化而变化的一对镜像电流,其分别流过比较模块和镇流电阻;/n所述比较模块用于根据镇流电阻上的电压和镜像电流模块上的电压变化,进行翻转输出;/n所述整形模块用于对比较模块的翻转输出进行整形,输出对应的高电平和低电平。/n
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