[发明专利]半导体存储器装置在审
| 申请号： | 201910654135.2 | 申请日： | 2019-07-19 |
| 公开（公告）号： | CN110739022A | 公开（公告）日： | 2020-01-31 |
| 发明（设计）人： | 冈田敏治 | 申请（专利权）人： | 拉碧斯半导体株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/10 | 分类号： | G11C29/10;G11C29/14;G11C29/18 |
| 代理公司： | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘茜璐;闫小龙 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及半导体存储器装置。提供了能够在短时间内输出示出存储器单元的通常块和缺陷块的配置关系的数据序列的半导体存储器装置。具有：存储器部，包括具有每一个由多个存储器单元构成的多个存储器块的通常存储器区域、以及具有用于置换多个存储器块之中的作为包括缺陷单元的存储器块的缺陷块的冗余块的冗余存储器区域；存储部，将示出通常存储器区域中的缺陷块的位置的缺陷地址信息与作为该缺陷块的置换对象的冗余块的位置对应起来存储；以及输出电路，根据数据读出信号，基于存储部中存储的信息，输出示出通常存储器区域的至少一部分的区域中的缺陷块与缺陷块以外的块的配置关系的由2值的数据构成的数据序列。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷块 存储器区域 存储器块 半导体存储器装置 存储器单元 配置关系 数据序列 存储部 冗余块 置换 存储 冗余存储器区域 数据读出信号 存储器部 缺陷单元 缺陷地址 输出电路 输出 | ||
【主权项】：
1.一种半导体存储器装置，其特征在于，具有：/n存储器部，包括具有每一个由多个存储器单元构成的多个存储器块的通常存储器区域、以及用于将针对所述多个存储器块之中的缺陷块的地址的访问置换为针对其他地址的访问的区域即包括具有该其他地址的冗余块的冗余存储器区域；/n存储部，将示出所述通常存储器区域中的所述缺陷块的位置的地址信息与示出作为该缺陷块的置换对象的冗余块的位置的地址信息对应起来存储；以及/n输出电路，根据数据读出信号，基于所述存储部中存储的信息，输出针对所述通常存储器区域的至少一部分的区域示出所述通常存储器区域内的所述缺陷块与所述缺陷块以外的存储器块的配置关系的由2值的数据构成的数据序列。/n
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