[发明专利]电子钥匙测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 201910657065.6 申请日: 2019-07-19
公开(公告)号: CN110456185A 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 洪锋明 申请(专利权)人: 成都承芯科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R19/25;G01R1/04;G06F11/22;G11C29/12
代理公司: 51218 成都金英专利代理事务所(普通合伙) 代理人: 袁英<国际申请>=<国际公布>=<进入国
地址: 610000四川省成都*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种电子钥匙测试系统及测试方法,包括测试终端和测试夹具;所述测试终端包括测试模块和模式选择模块,用于对电子钥匙进行功能测试;所述测试夹具包括接插板、控制板和线缆,接插板通过线缆与控制板连接,用于插装测试多个电子钥匙。本发明通过由插接板和控制板组成的测试夹具连接电脑与电子钥匙,并通过测试软件选择测试模式对多个电子钥匙进行测试控制,电子钥匙测试系统的工作环境温度范围可在‑45℃~+70℃,贮存环境温度可在‑50℃~+75℃,能在高低温环境中正常运行,适用范围广,大大提高了产品的生产效率和生产质量,避免问题电子钥匙的产生。
搜索关键词: 电子钥匙 测试夹具 控制板 测试系统 测试终端 接插板 线缆 模式选择模块 高低温环境 测试 测试控制 测试模块 测试软件 功能测试 生产效率 选择测试 插接板 插装 贮存 电脑 生产
【主权项】:
1.电子钥匙测试系统,其特征在于,包括测试终端和测试夹具;/n所述测试终端包括测试模块和模式选择模块,用于对电子钥匙进行功能测试;/n所述测试夹具包括接插板、控制板和线缆,接插板通过线缆与控制板连接,用于插装测试多个电子钥匙。/n
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