[发明专利]一种双波长叠层显微成像方法及系统有效
| 申请号： | 201910659724.X | 申请日： | 2019-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN110360924B | 公开（公告）日： | 2021-01-26 |
| 发明（设计）人： | 马锐;于韬;杨栋宇;孙鑫凯;祝玉鹏;张书源;陶冶;史祎诗 | 申请（专利权）人： | 中国科学院大学 |
| 主分类号： | G01B9/02 | 分类号： | G01B9/02;G01N21/84 |
| 代理公司： | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人： | 刘凤玲 |
| 地址： | 100049 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种双波长叠层显微成像方法及系统。该方法包括：获取在两种波长光束的照射下CCD探测器得到的多幅衍射图；将每幅衍射图进行分通道提取得到两种波长下的多幅衍射图；对每种波长下的衍射图进行物平面的振幅信息提取得到物平面振幅图；计算每种波长下相邻的两幅振幅图在不同的重叠程度下的振幅信息的相关系数；比较相关系数确定相关系数最大值所对应的重叠程度得到位置偏差；根据位置偏差对每种波长下的各幅振幅图进行坐标校准得到校准坐标；对两种波长下的同一序号的振幅图的校准坐标求平均取整得到对应的衍射图的真实坐标；将各幅衍射图的真实坐标输入叠层成像算法得到重建后的物体图像。本发明的方法及系统能够提高成像效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 波长 显微 成像 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种双波长叠层显微成像方法，其特征在于，包括：获取在两种波长的光束的照射下通过平移台的间断移动和CCD探测器的间断曝光得到的多幅衍射图；将每幅所述衍射图进行分通道提取，得到两种波长下的多幅衍射图；对每种波长下的多幅衍射图进行物平面的振幅信息提取，得到每幅衍射图对应的物平面振幅图；计算每种波长下相邻的两幅振幅图在不同的重叠程度下的振幅信息的相关系数；比较相邻的两幅振幅图在不同的重叠程度下的振幅信息的相关系数确定相关系数最大值所对应的重叠程度，从而得到相邻两幅振幅图的位置偏差；根据所述位置偏差，对每种波长下的各幅振幅图进行坐标校准，得到每种波长下的各幅振幅图的校准坐标；对两种波长下的同一序号的振幅图的校准坐标求平均取整，得到对应的衍射图的真实坐标；将各幅衍射图的真实坐标输入叠层成像算法得到重建后的物体图像。
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