[发明专利]表面脏污测量方法与测量装置有效
申请号: | 201910659798.3 | 申请日: | 2019-07-22 |
公开(公告)号: | CN110266269B | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 陈宗达;萧逢祥;程谦礼;张杰 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | H02S50/10 | 分类号: | H02S50/10 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种表面脏污测量方法与测量装置,其中该表面脏污测量方法包含以下步骤:移动测量装置的挡板,以暴露测量装置的第一光电单元,其中测量装置另包含第二光电单元与控制电路;利用控制电路测量第一光电单元的第一短路电流与第二光电单元的第二短路电流;移动挡板,以遮蔽第一光电单元;利用控制电路计算第一短路电流与第二短路电流的差值,并将该差值除以第一短路电流以得到第二光电单元的发电量损失百分比。 | ||
搜索关键词: | 表面 脏污 测量方法 测量 装置 | ||
【主权项】:
1.一种表面脏污测量方法,其包含:移动测量装置的挡板,以暴露该测量装置的第一光电单元,其中该测量装置另包含第二光电单元与控制电路;利用该控制电路测量该第一光电单元的第一短路电流与该第二光电单元的第二短路电流;移动该挡板,以遮蔽该第一光电单元;以及利用该控制电路计算该第一短路电流与该第二短路电流的一差值,并将该差值除以该第一短路电流以得到该第二光电单元的发电量损失百分比。
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