[发明专利]用于认证组件子系统的方法、组件子系统和盒有效
申请号: | 201910665390.7 | 申请日: | 2017-02-10 |
公开(公告)号: | CN110561914B | 公开(公告)日: | 2021-11-09 |
发明(设计)人: | C·P·卡波瑞奥;A·罗德里格斯;S·J·贝尔;J·M·沙尔 | 申请(专利权)人: | 施乐公司 |
主分类号: | B41J2/175 | 分类号: | B41J2/175;B41J29/02;G06F21/44;G06F21/79;H04L29/06 |
代理公司: | 上海胜康律师事务所 31263 | 代理人: | 樊英如;张华 |
地址: | 美国康*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 客户可更换单元监视器(CRUM)的安全提高。公开了组件子系统和用于认证组件子系统的方法。组件子系统可以安装于主机装置中。所述方法可以包括认证协议,其中,主机装置向组件子系统发送测试电压值,组件子系统又基于测试电压值生成测试电压。测试电压被施加到包括字线、位线和存储器膜的测试单元。响应电压从位线读出并与预期值比较。如果响应电压与预期值匹配,则主机装置和/或组件子系统的功能被启用。如果响应电压与预期值不匹配,则主机装置和/或组件子系统的功能被禁止。 | ||
搜索关键词: | 用于 认证 组件 子系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种用于认证组件子系统的方法,包括:/n在所述组件从主机装置接收测试电压值;/n向测试单元施加输入电压,其中,所述输入电压基于所述测试电压值;/n从所述测试单元读响应电压,其中,所述响应电压由施加到所述测试单元的所述输入电压产生;以及/n从所述主机装置的组件子系统输出响应电压。/n
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