[发明专利]基于反向串接结构的级联型变流器子模块测试电路在审

专利信息
申请号: 201910665459.6 申请日: 2019-07-23
公开(公告)号: CN110488114A 公开(公告)日: 2019-11-22
发明(设计)人: 马柯;姜山 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 31317 上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 代理人: 徐红银<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种基于反向串接结构的级联型变流器子模块测试电路,包括:电流发生器和测试单元,所述电流发生器向所述测试单元提供测试电流;其中,每个所述测试单元包括两个反向串联的被测子模块;测试单元之间呈串联关系;当所述测试单元接收到所述电流发生器发送的测试电流时,所述测试单元测试所述被测子模块的电压信号,或者测试所述被测子模块的电压信号和电流信号。本发明可以实现级联型变流器在整流、逆变运行模式下的工况模拟,并且能够实现对多个子模块的同时测试,提升测试效率。子模块反向串接的结构能够抵消电容电压中的直流分量,降低测试直流电压要求。
搜索关键词: 测试单元 电流发生器 测子 级联型变流器 测试电流 电压信号 子模块 测试 反向串接结构 测试直流电 测试电路 测试效率 电流信号 电容电压 反向串接 反向串联 工况模拟 运行模式 直流分量 逆变 串联 抵消 发送
【主权项】:
1.一种基于反向串接结构的级联型变流器子模块测试电路,其特征在于,包括:电流发生器和测试单元,所述电流发生器向所述测试单元提供测试电流;其中,每个所述测试单元包括两个反向串联的被测子模块;测试单元之间呈串联关系;当所述测试单元接收到所述电流发生器发送的测试电流时,所述测试单元测试所述被测子模块的电压信号,或者测试所述被测子模块的电压信号和电流信号。/n
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