[发明专利]用于谱仪的平面离子源在审
申请号: | 201910665728.9 | 申请日: | 2019-07-23 |
公开(公告)号: | CN110752140A | 公开(公告)日: | 2020-02-04 |
发明(设计)人: | G.埃斯曼;B.D.加德纳;H-C.W.牛 | 申请(专利权)人: | 哈米尔顿森德斯特兰德公司 |
主分类号: | H01J49/10 | 分类号: | H01J49/10;H01J49/14;H01J49/00 |
代理公司: | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 吴超;傅永霄 |
地址: | 美国北卡*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用于分离和分析离子的设备,包括:检测器;平面离子漂移管,所述平面离子漂移管耦接到所述检测器并且具有一定宽度;以及平面离子源。所述平面离子源在所述离子漂移管的与所述检测器相对的一端上耦接到所述离子漂移管,并且跨度大于或等于所述离子漂移管的所述宽度,以电离分析物气体并且使分析物气体离子碎裂,随后使其进入所述离子漂移管。还描述了化学检测器和化学检测方法。 | ||
搜索关键词: | 漂移管 离子 检测器 分析物气体 平面离子源 分离和分析 化学检测器 化学检测 离子碎裂 电离 跨度 | ||
【主权项】:
1.一种用于分离和分析离子的设备,所述设备包括:/n检测器;/n离子漂移管,所述离子漂移管耦接到所述检测器并且具有一定宽度;以及/n平面离子源,所述平面离子源在所述离子漂移管的与所述检测器相对的一端上耦接到所述离子漂移管,其中所述平面离子源的跨度等于或大于所述离子漂移管的所述宽度,以电离分析物气体并且使在所述平面离子源附近的分析物气体离子碎裂并且随后使其进入所述离子漂移管中。/n
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