[发明专利]缺陷分类方法、缺陷分类训练方法及其装置有效
| 申请号： | 201910670824.2 | 申请日： | 2019-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN110414538B | 公开（公告）日： | 2022-05-27 |
| 发明（设计）人： | 彭项君;王云奇;赵晨曦;薛亚冲;李纲;吕耀宇;张硕;楚明磊;陈丽莉;张浩 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G06V10/46 | 分类号： | G06V10/46;G06V10/762;G06V10/774;G06V10/764;G06K9/62;G06T5/00;G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06F17/16 |
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| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本公开提供了一种缺陷分类方法，方法包括：从缺陷图像中提取缺陷区域的低层特征；利用缺陷词典，对所述低层特征进行编码，以得到与所述低层特征对应的中层语义特征；基于所述中层语义特征，将所述缺陷图像中的缺陷区域的缺陷分类为多个缺陷类之一，其中，所述缺陷词典包括缺陷类内词典和缺陷类间词典。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 分类 方法 训练 及其 装置 | ||
【主权项】：
1.一种缺陷分类方法，包括：从缺陷图像中提取缺陷区域的低层特征；利用缺陷词典，对所述低层特征进行编码，以得到与所述低层特征对应的中层语义特征；基于所述中层语义特征，将所述缺陷图像中的缺陷区域的缺陷分类为多个缺陷类之一，其中，所述缺陷词典包括缺陷类内词典和缺陷类间词典。
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