[发明专利]一种发光元件不良检测治具及屏体短路检测方法在审
| 申请号： | 201910671819.3 | 申请日： | 2019-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN112305449A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 廖明富;郝力强;马中生;葛鹏程;于子洋 | 申请（专利权）人： | 苏州清越光电科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/52 | 分类号： | G01R31/52;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人： | 刘林涛 |
| 地址： | 215300 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种发光元件不良检测治具及屏体短路检测方法，其中检测治具包括升降机构，至少两个探针单元和若干与探针单元对应设置的信号发生检测模块，每个信号发生检测模块分别连接一个探针单元，探针单元相互之间并联设置，且设置在所述升降机构上。在测试过程中，一个信号发生检测模块中的信号发生模块发出信号，信号经过探针单元传递至该探针单元所对应的引线上，如果相邻两根引线之间存在金属颗粒异物，那么信号将通过该金属颗粒异物传递至相邻的引线上，该引线上的信号发生检测模块中的信号检测模块将检测到信号，此时便可以判断在两根或者多个引线之间存在着供线路导通的金属颗粒异物。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 发光 元件 不良 检测 短路 方法 | ||
【主权项】：
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