[发明专利]发散束二维X射线衍射在审
| 申请号： | 201910672756.3 | 申请日： | 2019-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN110779940A | 公开（公告）日： | 2020-02-11 |
| 发明（设计）人： | J·金克 | 申请（专利权）人： | 布鲁克AXS公司 |
| 主分类号： | G01N23/20008 | 分类号： | G01N23/20008 |
| 代理公司： | 11285 北京北翔知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郑建晖;魏文浩 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 二维X射线衍射仪使用X射线源，该X射线源朝向在测试中的样品发射发散束。该发散束在垂直于其传播方向的第一方向上具有大体上固定的宽度，且在垂直于该传播方向的第二方向上具有与距该源的距离成比例地增加的厚度。一个孔径可以被用来在该第二方向上阻挡该束的一部分，且该样品被定位成使得该束照射样品表面的一个二维区域。该检测器在一个一维检测区域内检测从该样品衍射的X射线信号，且可以使用一维检测器阵列，该一维检测器阵列在多个不同位置处收集衍射的X射线信号。该源、检测器和样品被安装到一个测角仪以将它们维持在期望的相对定向中。 | ||
| 搜索关键词： | 检测器 一维检测器 传播方向 发散 衍射 垂直 二维X射线 二维区域 检测区域 样品表面 测角仪 固定的 位置处 衍射仪 照射 阻挡 测试 发射 期望 检测 | ||
【主权项】：
1.一种用于从样品收集X射线衍射数据的X射线衍射仪，包括：/n一个X射线源，其发射一个发散X射线束，该发散X射线束在第一方向上具有大体上固定的宽度，且在垂直于该第一方向的第二方向上具有与距该源的距离成比例地增加的厚度，该源相对于该样品定位成使得该束照射该样品的表面的一个二维区域；/n一个X射线检测器，其在一个一维检测区域内检测从该样品衍射的X射线信号；以及/n一个定位机构，用于重新定位该源和检测器中的至少一个，以便允许在该源、检测器和样品的多个相对角位置处由该检测器收集衍射的X射线信号，所述检测的X射线信号被用来形成一个多维数据集，该多维数据集指示对于所述多个相对角位置中的每个在所述一维检测区域中的X射线强度。/n
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