[发明专利]X射线荧光光谱仪检测生铁中砷、锡元素含量的方法在审
| 申请号： | 201910672804.9 | 申请日： | 2019-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN110426408A | 公开（公告）日： | 2019-11-08 |
| 发明（设计）人： | 周景涛;田芳;薛玉芳;王丽艳;李强;关剑侠 | 申请（专利权）人： | 包头钢铁（集团）有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2202 |
| 代理公司： | 北京律远专利代理事务所(普通合伙) 11574 | 代理人： | 全成哲 |
| 地址： | 014010 内*** | 国省代码： | 内蒙古;15 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X荧光光谱仪检测生铁中砷、锡元素含量的分析方法。该方法包括对在高炉出铁取得的生铁试样块，其外观为圆台状，高35‑55mm、上表面直径28‑32mm、下表面直径38‑42mm，用切割机从中间切断，将其中小头的一段试样经砂轮机抛光磨制后，得到与制作标准曲线的标准样品表面基准一致的待检测生铁样品；利用OXSAS软件绘制砷、锡元素校准工作曲线，对待检测生铁样品进行砷、锡元素含量的检测分析。该方法制样快速，代表性强，检测结果准确度、精密度高，适合现场快速分析的需求。 | ||
| 搜索关键词： | 锡元素 生铁 检测 切割机 标准曲线 标准样品 表面基准 工作曲线 检测分析 检测结果 快速分析 生铁试样 准确度 砂轮机 上表面 下表面 圆台状 抛光 校准 出铁 磨制 小头 制样 高炉 绘制 制作 分析 | ||
【主权项】：
1.一种X射线荧光光谱仪检测生铁中砷、锡元素含量的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，将高炉出铁取得的圆台形生铁试样进行切割，得到上表面半径较小的圆台状生铁A和上表面半径较大的圆台状生铁B；步骤二，对圆台状生铁A的切割面进行研磨铣削作为分析面，得到待检测生铁样品；步骤三，采用X射线荧光光谱仪在设定好的荧光仪测量条件下，测试多个能够覆盖待检测生铁样品中砷、锡元素含量范围的有证标准生铁样品，应用OXSAS软件，绘制测量的强度值与标准值的校准工作曲线，线性相关系数满足分析要求；步骤四，按照步骤三的荧光仪测量条件，利用X射线荧光光谱仪对待检测生铁样品进行砷、锡元素含量的检测。
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