[发明专利]一种基于探针自身重力的形貌测量系统及方法在审
申请号: | 201910672976.6 | 申请日: | 2019-07-24 |
公开(公告)号: | CN110514138A | 公开(公告)日: | 2019-11-29 |
发明(设计)人: | 杨树明;王飞;刘剑坤;李少博;程碧瑶 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G01B11/24 | 分类号: | G01B11/24 |
代理公司: | 61200 西安通大专利代理有限责任公司 | 代理人: | 范巍<国际申请>=<国际公布>=<进入国 |
地址: | 710049 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于探针自身重力的形貌测量系统及方法,位移台能够驱动待测样品在水平面内做扫描运动;探针设置支撑装置上并于位移台上放置的待测样品的上方,探针的轴线竖直,并在支撑装置上能够沿竖直方向自由移动,下端为针尖,针尖能够竖直压在待测样品表面,上端与反光镜垂直连接,反光镜呈水平设置,激光器与位置灵敏探测器分别设置于反光镜上方的两侧,激光器发射出的激光能够经反光镜反射后被位置灵敏探测器接收;当位移台驱动待测样品在水平面内做扫描运动时,探针会随着待测样品表面的高低起伏而上下移动。本发明结构简单,成本低,依据新式的测量原理,只需位移台和位移测量光路即可测量样品的三维形貌,测量分辨率可达纳米量级。 | ||
搜索关键词: | 待测样品 反光镜 探针 位移台 竖直 位置灵敏探测器 扫描运动 支撑装置 针尖 位移测量光路 测量分辨率 激光器发射 驱动 测量原理 垂直连接 高低起伏 纳米量级 三维形貌 上下移动 水平设置 形貌测量 激光器 上端 下端 反射 测量 激光 | ||
【主权项】:
1.一种基于探针自身重力的形貌测量系统,其特征在于,包括激光器(1)、位置灵敏探测器(3)、反光镜(4)、探针(5)、位移台(7)和支撑装置,位移台(7)上能够放置待测样品(6),位移台(7)能够驱动待测样品(6)在水平面内做扫描运动;所述探针(5)设置所述支撑装置上并于位移台(7)上放置的待测样品(6)的上方,探针(5)的轴线竖直,探针(5)在所述支撑装置上能够沿竖直方向自由移动,探针(5)的下端为针尖,针尖能够竖直压在待测样品(6)表面,探针(5)的上端与反光镜(4)垂直连接,反光镜(4)呈水平设置,激光器(1)与位置灵敏探测器(3)分别设置于反光镜(4)上方的两侧,激光器(1)发射出的激光能够经反光镜(4)反射后被位置灵敏探测器(3)接收;当位移台(7)驱动待测样品(6)在水平面内做扫描运动时,探针(5)会随着待测样品(6)表面的高低起伏而上下移动。/n
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