[发明专利]一种电容耦合结构及应用该结构的介质滤波器在审
| 申请号： | 201910679168.2 | 申请日： | 2019-07-25 |
| 公开（公告）号： | CN110504512A | 公开（公告）日： | 2019-11-26 |
| 发明（设计）人： | 陈建新;严格;秦伟;严盛喜;杨安岗;汪玮玺;王猛;赵俊 | 申请（专利权）人： | 江苏江佳电子股份有限公司;扬州江嘉科技有限公司 |
| 主分类号： | H01P1/20 | 分类号： | H01P1/20 |
| 代理公司： | 11278 北京连和连知识产权代理有限公司 | 代理人： | 奚衡宝<国际申请>=<国际公布>=<进入 |
| 地址： | 225261 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电容耦合结构及应用该结构的介质滤波器。电容耦合结构设置在至少两介质谐振器上，设两个介质谐振器为一个单元；在一个单元上的两个介质谐振器本体上均开设有调试孔，所述调试孔为盲孔；还形成有以下结构，在相邻两个介质谐振器连接位置的本体的上表面和下表面分别开设有至少一个负耦合孔，所述负耦合孔为盲孔，各负耦合孔的深度均不大于所述调试孔的深度。本发明通过对调试孔和负耦合孔的合理设置，使得本发明的电容耦合结构的耦合系数可调范围更大，技术应用范围可以更广，同时便于后期调试，具有很好的市场应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 调试孔 耦合孔 电容耦合结构 介质谐振器 盲孔 介质谐振器本体 介质滤波器 合理设置 技术应用 连接位置 市场应用 耦合系数 上表面 下表面 可调 调试 应用 | ||
【主权项】：
1.一种电容耦合结构，其特征在于，设置在至少两介质谐振器上，设两个介质谐振器为一个单元；/n在一个单元上的两个介质谐振器本体上开设有调试孔，所述调试孔为盲孔；/n还形成有以下结构，在相邻两个介质谐振器连接位置的本体的上表面和下表面分别开设有至少一个负耦合孔，所述负耦合孔为盲孔，各负耦合孔的深度均不大于所述调试孔的深度。/n
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