[发明专利]一种均热组件、温度校验仪及温度校验方法在审
| 申请号： | 201910679834.2 | 申请日： | 2019-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN112304473A | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 李学灿;高洪军;张春莹 | 申请（专利权）人： | 北京康斯特仪表科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01K15/00 | 分类号： | G01K15/00 |
| 代理公司： | 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 | 代理人： | 赵永丽;鲁兵 |
| 地址： | 100094 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种均热组件、温度校验仪及温度校验方法，用于对被检温度器件进行校验，该均热组件包括均热块和密封盖，该均热块设有用于容置被检温度器件的温包或感应端的盲孔，盲孔内填充有导热液，盲孔的开口端设有溢流槽，以承接盲孔中插入被检温度器件的温包或感应端时溢出的导热液。本发明通过在均热块上设置溢流槽配合填充有导热液体的盲孔，能够为被检温度器件的温包或感应端形成均衡的温度场，提高了检验精度；通过设置与均热块配套使用的密封盖，用于在校验完成后，防止盲孔中的液体泄漏，便于均热块的存放和携带；该温度校验仪通过设置均热组件，为被检温度器件的校验提供了均衡的温度场，适用于现场高精度校验被检温度器件。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 均热 组件 温度 校验 方法 | ||
【主权项】：
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