[发明专利]侧孔深度测量装置有效

专利信息
申请号: 201910680324.7 申请日: 2019-07-26
公开(公告)号: CN110487201B 公开(公告)日: 2021-08-31
发明(设计)人: 周道洪;陈勇军;钟大亮;黄林;赖武南;王贝贝 申请(专利权)人: 广东天机工业智能系统有限公司;广东长盈精密技术有限公司
主分类号: G01B11/22 分类号: G01B11/22
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 王锦河
地址: 523000 广东省东莞市松*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及一种侧孔深度测量装置,包括基板、治具以及检测机构;治具安装于基板上;检测机构包括活动连接基板的接触转换组件及位于接触转换组件上方的信号处理器,接触转换组件包括连接基板的固定件、活动连接固定件的若干接触针及安装于固定件的信号发射器,每一接触针均设有信号通孔,信号发射器与信号处理器相匹配,信号发射器位于信号通孔的下方,信号处理器位于信号通孔的上方;信号发射器发射信号穿过信号通孔,传输至信号处理器,信号处理器收集信号发射器发射的信号,获得信号通孔的位置信息,并信号通孔的位置信息转换成数据信息;未工作状态中,所有接触针上的信号通孔呈直线排列,检测时,部分接触针进入待检测件的待测孔内。
搜索关键词: 深度 测量 装置
【主权项】:
1.一种侧孔深度测量装置,其特征在于,包括:/n基板;/n治具,所述治具安装于所述基板上;以及/n检测机构,所述检测机构包括活动连接所述基板的接触转换组件及位于所述接触转换组件上方的信号处理器,所述接触转换组件包括连接所述基板的固定件、活动连接所述固定件的若干接触针及安装于所述固定件的信号发射器,每一所述接触针均设有信号通孔,所述信号发射器与所述信号处理器相匹配,所述信号发射器位于所述信号通孔的下方,所述信号处理器位于所述信号通孔的上方;所述信号发射器发射信号穿过所述信号通孔,传输至所述信号处理器,所述信号处理器收集所述信号发射器发射的信号,获得所述信号通孔的位置信息,并所述信号通孔的位置信息转换成数据信息;未工作状态中,所有所述接触针上的所述信号通孔呈直线排列,检测时,部分所述接触针进入待检测件的待测孔内。/n
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