[发明专利]一种X荧光钴内标-ICP钴补偿检测铁料中全铁含量的方法有效
| 申请号： | 201910680988.3 | 申请日： | 2019-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN110389146B | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 付志军;曾波;王涛;张强;李敏 | 申请（专利权）人： | 新余钢铁股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N21/73 |
| 代理公司： | 芜湖安汇知识产权代理有限公司 34107 | 代理人： | 尹婷婷 |
| 地址： | 33800*** | 国省代码： | 江西;36 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X荧光钴内标‑ICP钴补偿检测铁料中全铁含量的方法，采用钴内标法，通过X射线荧光法建立铁元素工作曲线，实现对铁料中全铁含量的检测，并以铁元素含量与铁元素强度和钴元素强度之比的比值，计算出钴对全铁含量的补偿系数；采用ICP光谱法建立钴元素工作曲线，实现对铁料中钴元素含量的检测；钴元素含量乘以补偿系数，并将此结果与X射线荧光法测试的全铁含量相加，即可得到待测铁料样品中的全铁含量。该方法可实现多元素同时检测，且单个样品的检测时间在18分钟内；检测速度比国标方法快了近10倍，检测成本是国标手工法的一半，检测结果误差优于国标规定范围。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 钴内标 icp 补偿 检测 铁料中全铁 含量 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X荧光钴内标‑ICP钴补偿检测铁料中全铁含量的方法，其特征在于：包括以下步骤：(1)采用钴内标法，通过X射线荧光法建立铁元素工作曲线，实现对铁料中全铁含量的检测；(2)以铁元素含量与X射线荧光法测试的铁元素强度和钴元素强度之比的比值，计算出钴对全铁含量的补偿系数；(3)采用ICP光谱法建立钴元素工作曲线，实现对铁料中钴元素含量的检测；(4)将步骤(1)中X射线荧光法测试的全铁含量加上步骤(3)中钴元素含量与步骤(2)中补偿系数的乘积，即可得到待测铁料样品中的全铁含量。
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