[发明专利]双毫米精度激光探测技术

摘要

一种双毫米精度激光探测技术，包括：激光器发射激光束，激光束经透镜折射为扇形面激光，扇形面激光持续照射在根据探测空间需要排列的光敏芯片组上，当目标物体从扇形面激光内部穿过时，对应的光敏芯片获得激光被阻断的信号，由此可获知目标物体通过扇形面激光的方向，如果目标物体长度、运动速度等参数为已知，则通过光敏芯片的信号阻断时间，还可以计算出目标物体通过扇形面激光的运动速度和位置，从而实现对目标物体的精确探测，其探测精度取决于单个光敏芯片的宽度和每两个光敏芯片之间的排列间距，按照目前的技术和工艺，本发明可以实现探测精度毫米级、探测目标大小毫米级的双毫米精度。

主权项

1.一种双毫米精度激光探测技术，其特征是：所述的双毫米精度激光探测技术包括：激光器(1)发射激光束(2)，激光束(2)经透镜(3)折射为扇形面激光(4)，扇形面激光(4)持续照射在根据探测空间需要排列的光敏芯片组(5)上；设扇形面激光(4)的反向焦点为A，扇形面激光(4)照射在光敏芯片组(5)上的位置为B，扇形面激光(4)是由从A点发射出的n束激光束组成，扇形面激光(4)最左边的第1束激光束照射在光敏芯片组(5)的第1个光敏芯片(5.1)上，该束激光定义为AB₁，最右侧的第n束激光束照射在光敏芯片组(5)的第n个光敏芯片(5.n)上，该束激光定义为AB_n；当目标物体(6)从扇形面激光(4)内部穿过时，第x束激光束AB_x补阻断，与该激光束对应的光敏芯片(5.x)获得激光被阻断的信号，由于该光敏芯片(5.x)对应的唯一的激光束AB_x的方向、位置为已知，因此，即可获知目标物体(6)通过扇形面激光(4)的方向。